REVISTA

TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

10 artículos asociados

Volumen 51 Número 3 Parte 0 Año 2009

Haipeng Shen
Pág. 227 - 238  

Ryan P. Browne, R. Jock MacKay, Stefan H. Steiner
Pág. 239 - 249  

Lulu Kang, V. Roshan Joseph
Pág. 250 - 261  

Hongquan Xu
Pág. 262 - 277  

Gang Han, Thomas J. Santner, William I. Notz, Donald L. Bartel
Pág. 278 - 288  

Jong-Hoon Joo, Peihua Qiu
Pág. 289 - 305  

Michael J. Brusco, Douglas Steinley, J. Dennis Cradit
Pág. 306 - 315  

Jin Zhang, Michael A. Stephens
Pág. 316 - 325  

Dulal K. Bhaumik, Kush Kapur, Robert D. Gibbons
Pág. 326 - 334  

Sheng-Tsaing Tseng, Bo-Yan Jou
Pág. 335 - 338