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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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9 artículos asociados

Volumen 51 Número 1 Parte 0 Año 2009

Ying Shi, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
Pág. 1 - 13  

J.F. Lawless, M.J. Crowder, K.-A. Lee
Pág. 14 - 24  

Hsiuying Wang, Fugee Tsung
Pág. 25 - 33  

Jung Jin Cho, Yong Chen, Yu Ding
Pág. 34 - 46  

Carla A. Vivacqua, Soren Bisgaard
Pág. 47 - 55  

Timothy J. Robinson, Christine M. Anderson-Cook, Michael S. Hamada
Pág. 56 - 65  

Chen-Tuo Liao, Feng-Shun Chai
Pág. 66 - 74  

Christine M. Anderson-Cook, Connie M. Borror, Bradley Jones
Pág. 75 - 87  

Christopher M. Gotwalt, Bradley A. Jones, David M. Steinberg
Pág. 88 - 95