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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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13 artículos asociados

Volumen 52 Número 3 Parte 0 Año 2010

Peihua Qiu, Changliang Zou, Zhaojun Wang
Pág. 265 - 276  

Daniel W. Apley
Pág. 277 - 279  

Hugh A. Chipman, R. Jock MacKay, Stefan H. Steiner
Pág. 280 - 282  

F. Tsung
Pág. 283 - 284  

William H. Woodall, Jeffrey B. Birch, Pang Du
Pág. 285 - 287  

Peihua Qiu, Changliang Zou, Zhaojun Wang
Pág. 288 - 293  

Ryan Browne, Jock MacKay, Stefan Steiner
Pág. 294 - 302  

David Hoffman
Pág. 303 - 312  

Takesi Emura, Hsiuying Wang
Pág. 313 - 323  

Javier Cano, Javier M. Moguerza, David Ríos Insúa
Pág. 324 - 334  

Jin Zhang
Pág. 335 - 339  

Huiping Xu, Bruce A. Craig
Pág. 340 - 348  

Shifeng Xiong
Pág. 349 - 361