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Walker, I. R.; Moss, C. J.
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Pág. 4344
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Tobar, Michael E.; Locke, Clayton R.; Ivanov, Eugene N.; Heng, Ik Siong; Bla
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Pág. 4282 - 4285
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Welch, S. J.
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Pág. 4286 - 4293
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Zelazny, S. A.; Koch, P. M.
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Pág. 4294 - 4299
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Nevejans, Dennis; Neefs, Eddy; Kavadias, Spyros; Merken, Patrick; Van Hoof,
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Pág. 4300 - 4305
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Serio, B.; Nika, Ph.; Prenel, J. P.
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Pág. 4306 - 4313
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Golnabi, Hossein
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Pág. 4314 - 4318
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Li, Jianfeng; Sutherland, John W.
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Pág. 4319 - 4322
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Colclough, M. S.
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Pág. 4323 - 4324
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Gao, Wei; Hocken, Robert J.; Patten, John A.; Lovingood, John
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Pág. 4325 - 4329
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Torrisi, L.; Ciavola, G.; Gammino, S.; Ando, L.; Barna`, A.; Laska, L.;
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Pág. 4330 - 4334
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Jones, Ronald M.; Anderson, Scott L.
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Pág. 4335 - 4337
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Kasas, Sandor; Wang, Xin; Hirling, Harald; Catsicas, Stefan; Haeberli, Chris
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Pág. 4338 - 4340
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Gaskill, D. K.; Holm, R. T.; Glembocki, O. J.
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Pág. 4341 - 4343
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