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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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16 artículos asociados

Volumen 22 Número 10 Parte 0 Año 2000

Bowyer, K
Pág. 1065 - 1065  

Heikkilä, J
Pág. 1066 - 1077  

Lee, T W; Lewicki, M S; Sejnowski, T J
Pág. 1078 - 1089  

Phillips, P J; Moon, H; Rizvi, S A; Rauss, P J
Pág. 1090 - 1104  

Zeinik-Manor, L; Irani, M
Pág. 1105 - 1116  

Sharon, E; Brandt, A; Basri, R
Pág. 1117 - 1131  

Sebe, N; Lew, M S; Huijsmans, D P
Pág. 1132 - 1143  

Peleg, S; Rousso, B; Rav-Acha, A; Zomet, A
Pág. 1144 - 1154  

Gu, H; Takahashi, H
Pág. 1155 - 1167  

Sanchez-Reillo, R; Sanchez-Avila, C; Gonzalez-Marcos, A
Pág. 1168 - 1171  

Swaminathan, R; Nayar, S K
Pág. 1172 - 1178  

Faugeras, O; Quan, L; Strum, P
Pág. 1179 - 1184  

Latecki, L Jan; Lakämper, R
Pág. 1185 - 1190  

Sawhney, H S; Guo, Y; Kumar, R
Pág. 1191 - 1198  

Sturm, P
Pág. 1199 - 1204  

Lee, B-U; Kim, C-M; Park, R-H
Pág. 1205 - 1205