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PROCEEDINGS OF THE IEEE

ISSN: 0018-9219   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

17 artículos asociados

Volumen 88 Número 6 Parte 0 Año 2000

Pág. 723 - 727  

Miller, D A B
Pág. 728 - 749  

Levi, A F J
Pág. 750 - 757  

Lytel, R; Davidson, H L; Nettleton, N; Sze, T
Pág. 758 - 763  

Liu, Y; Strzelecka, E M; Nohava, J; Hibbs-Brenner, M K; Towe, E
Pág. 764 - 768  

Thienpont, H; Debaes, C; Baukens, V; Ottevaere, H; Vynck, P; Tuteleers, P;
Pág. 769 - 779  

Chen, R T; Lin, L; Choi, C; Liu, Y J; Bihari, B; Wu, L; Tang, S; Wickman,
Pág. 780 - 793  

Li, Y; Ai, J; Popelek, J
Pág. 794 - 805  

Plant, D V; Kirk, A G
Pág. 806 - 818  

Haney, M W; Christensen, M P; Milojkovic, P; Fokken, G J; Vickberg, M; Gilb
Pág. 819 - 828  

McArdle, N; Naruse, M; Toyoda, H; Kobayashi, Y; Ishikawa, M
Pág. 829 - 837  

Fey, D; Erhard, W; Gruber, M; Jahns, J; Bartelt, H; Grimm, G; Hoppe, L; S
Pág. 838 - 848  

Yoshikawa, T; Matsuoka, H
Pág. 849 - 855  

Zhou, G; Zhang, Y; Liu, W
Pág. 856 - 863  

Miller III, T K
Pág. 864 - 867  

Bowers, B
Pág. 868 - 870  

Pág. 871 - 871