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PROCEEDINGS OF THE IEEE

ISSN: 0018-9219   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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14 artículos asociados

Volumen 88 Número 9 Parte 0 Año 2000

Pág. 1383 - 1385  

Esch, J
Pág. 1386 - 1387  

Hanzo, L; Cherriman, P; Kuan, E-L
Pág. 1388 - 1413  

Self, K
Pág. 1414 - 1415  

Shaffner, T
Pág. 1416 - 1437  

Esch, J
Pág. 1438 - 1439  

Tsang, J C; Kash, J A; Vallett, D P
Pág. 1440 - 1459  

Jutamulia, S; Bernal, M-P; Marquis-Weible, F; Boillat, P-Y; Lambelet, P
Pág. 1460 - 1470  

Lewis, A; Shambrot, E; Radko, A; Lieberman, K; Ezekiel, S; Veinger, D; Yam
Pág. 1471 - 1479  

Milster, T D
Pág. 1480 - 1490  

Wu, Q; Ghislain, L P; Elings, V B
Pág. 1491 - 1498  

Ohtsu, M; Kobayashi, K; Ito, H; Lee, G-H
Pág. 1499 - 1518  

Bowers, B
Pág. 1519 - 1521  

Pág. 1522 - 1522