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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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15 artículos asociados

Volumen 22 Número 8 Parte 0 Año 2000

Collins, R T; Lipton, A J; Kanade, T
Pág. 745 - 746  

Stauffer, C; Grimson, W E L
Pág. 747 - 757  

Lee, L; Romano, R; Stein, G
Pág. 758 - 767  

Pless, R; Brodsky, T; Aloimonos, Y
Pág. 768 - 773  

Wixson, L
Pág. 774 - 780  

Cutler, R; Davis, L S
Pág. 781 - 796  

Ricquebourg, Y; Bouthemy, P
Pág. 797 - 808  

Haritaoglu, I; Harwood, D; Davis, L S
Pág. 809 - 830  

Oliver, N M; Rosario, B; Pentland, A P
Pág. 831 - 843  

Brand, M; Keltnaker, V
Pág. 844 - 851  

Ivanov, Y A; Bobick, A F
Pág. 852 - 872  

Wada, T; Matsuyama, T
Pág. 873 - 887  

Shi, J; Malik, J
Pág. 888 - 905  

Shen, D; Davatzikos, C
Pág. 906 - 912  

Zhen, J Y; Murata, A
Pág. 913 - 913