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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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Volumen 28 Número 11 Parte 0 Año 2006

Matei, B.C.; Meer, P.
Pág. 1537 - 1552  

Ward, J.A.; Lukowicz, P.; Troster, G.; Starner, T.E.
Pág. 1553 - 1567  

Kolmogorov, V.
Pág. 1568 - 1583  

Mian, A.S.; Bennamoun, M.; Owens, R.
Pág. 1584 - 1601  

Manay, S.; Cremers, D.; Byung-Woo Hong; Yezzi, A.J.; Soatto, S.
Pág. 1602 - 1618  

Rodriguez, J.J.; Kuncheva, L.I.; Alonso, C.J.
Pág. 1619 - 1630  

Kadyrov, A.; Petrou, M.
Pág. 1631 - 1645  

Caetano, T.S.; Caelli, T.; Schuurmans, D.; Barone, D.A.C.
Pág. 1646 - 1663  

Markou, M.; Singh, S.
Pág. 1664 - 1677  

Snoek, C.G.M.; Worring, M.; Geusebroek, J.; Koelma, D.C.; Seinstra, F.J.; Smeulders, A.W.M.
Pág. 1678 - 1689  

Donner, R.; Reiter, M.; Langs, G.; Peloschek, P.; Bischof, H.
Pág. 1690 - 1694  

Kyong I. Chang; Bowyer, K.W.; Flynn, P.J.
Pág. 1695 - 1700  

Gang Hua; Zicheng Liu; Zhengyou Zhang; Ying Wu
Pág. 1701 - 1706  

Ayala, G.; Sebastian, R.; Diaz, M.E.; Diaz, E.; Zoncu, R.; Toomre, D.
Pág. 1707 - 1712