REVISTA

TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

41 artículos asociados

Volumen 47 Número 2 Parte 0 Año 2005

Li, Runze; Sudjianto, Agus
Pág. 111 - 120  

Xu, Hongquan; Deng, Lih-Yuan
Pág. 121 - 131  

Kuhfeld, Warren F.; Tobias, Randall D.
Pág. 132 - 141  

Bayarri, M.J.; García-Donato, G.
Pág. 142 - 151  

Rajagopal, Ramkumar; del Castillo, Enrique
Pág. 152 - 163  

Hawkins, Douglas M.; Zamba, K.D.
Pág. 164 - 173  

McLeod, A.I.; Vingilis, E.R.
Pág. 174 - 181  

McKane, Scott W.; Escobar, Luis A.; Meeker, William Q.
Pág. 182 - 190  

Dupuis, Debbie J.
Pág. 191 - 201  

Picard, Richard
Pág. 202 - 211  

Fernández de Castro, B.; Guillas, S.; González Manteiga, W.
Pág. 212 - 222  

Glosup, Jeffrey
Pág. 223 - 231  

Glosup, Jeffrey
Pág. 232 - 232  

Michelson, Diane K.
Pág. 233 - 233  

Ghosh, Subir
Pág. 233 - 233  

Olive, David J.
Pág. 233 - 233  

Walker, Esteban
Pág. 234 - 248  

Lordo, Robert
Pág. 234 - 234  

Castelli, Vittorio
Pág. 235 - 235  

Ganocy, Stephen J.
Pág. 236 - 237  

Wassell, James T.
Pág. 236 - 236  

Lipovetsky, Stan
Pág. 237 - 248  

Breneman, James
Pág. 237 - 237  

Sarkar, Pradipta
Pág. 238 - 238  

Yeh, Arthur B
Pág. 239 - 239  

Booth, David E.
Pág. 240 - 240  

Ding, Yu
Pág. 240 - 240  

Ziegel, Eric R.
Pág. 241 - 241  

Maitra, Ranjan
Pág. 241 - 241  

Ziegel, Eric R.
Pág. 242 - 242  

Pág. 243 - 243  

Pág. 244 - 245  

Pág. 244 - 244  

Pág. 244 - 244  

Pág. 244 - 244  

Pág. 245 - 245  

Pág. 245 - 245  

Pág. 245 - 245  

Pág. 246 - 246  

Pág. 247 - 247  

Pág. 247 - 247