REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

14 artículos asociados

Volumen 27 Número 2 Parte 0 Año 2005

Sarkar, S.; Phillips, P.J.; Liu, Z.; Vega, I.R.; Grother, P.; Bowyer, K.W.
Pág. 162 - 177  

Tan, R.T.; Ikeuchi, K.
Pág. 178 - 193  

Wilczkowiak, M.; Sturm, P.; Boyer, E.
Pág. 194 - 207  

Felzenszwalb, P.F.
Pág. 208 - 220  

Dorst, L.
Pág. 221 - 229  

Jian Yang; Frangi, A.F.; Jing-Yu Yang; David Zhang; Zhong Jin
Pág. 230 - 244  

Huijsmans, D.P.; Sebe, N.
Pág. 245 - 251  

Gluckman, J.
Pág. 252 - 264  

Guillemaut, J.-Y.; Aguado, A.S.; Illingworth, J.
Pág. 265 - 270  

Guang Jiang; Yichen Wei; Long Quan, Sr.; Hung-tat Tsui; Heung Yeung Shum, Sr.
Pág. 271 - 277  

Su Yang
Pág. 278 - 281  

Tao Zhang; Freedman, D.
Pág. 282 - 287  

Ramamoorthi, R.; Koudelka, M.; Belhumeur, P.
Pág. 288 - 295  

Davis, J.; Nehab, D.; Ramamoorthi, R.; Rusinkiewicz, S.
Pág. 296 - 302