REVISTA

TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

8 artículos asociados

Volumen 47 Número 1 Parte 0 Año 2005

Daniel Peña
Pág. 1 - 12  

Brian D. Marx; Paul H.C. Eilers
Pág. 13 - 22  

Irwin Guttman; Daniel Peña; Dolores Redondas
Pág. 23 - 33  

Qiqing Yu; George Y.C. Wong
Pág. 34 - 42  

David J. Olive; Douglas M. Hawkins
Pág. 43 - 50  

Arden Miller
Pág. 51 - 63  

Mia Hubert; Peter J. Rousseeuw; Karlien Vanden Branden
Pág. 64 - 79  

Christopher K. Wikle; L. Mark Berliner
Pág. 80 - 91