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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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14 artículos asociados

Volumen 51 Número 1 Parte 0 Año 2002

Park, N. Lombardi, F.
Pág. 100 - 110  

Oh, N. Shirvani, P. P. McCluskey, E. J.
Pág. 111 - 122  

Benso, A. Chiusano, S. Di Natale, G. Prinetto, P.
Pág. 123 - 128  

Nair, J. H. Sabnis, S. V.
Pág. 17 - 22  

Muralidharan, K.
Pág. 23 - 26  

Bagdonavicius, V. B. Gerville-Reache, L. Nikulin, M. S.
Pág. 27 - 31  

Cain, S. R.
Pág. 32 - 38  

Ramesh, A. V. Twigg, D. W. Sandadi, U. R. Sharma, T. C.
Pág. 39 - 48  

Fitzgerald, K. Latifi, S. Srimani, P. K.
Pág. 49 - 57  

Lin, M.-S.
Pág. 58 - 62  

Oh, N. Shirvani, P. P. McCluskey, E. J.
Pág. 63 - 75  

Deconinck, G. De Florio, V. Varvarigou, T. Verentziotis, E.
Pág. 76 - 90  

Jackson, D. S. Pant, H. Tortorella, M.
Pág. 8 - 16  

Kreimer, J.
Pág. 91 - 99