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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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Volumen 29 Número 9 Parte 0 Año 2007

Mitra, Sinjini; Savvides, Marios; Brockwell, Anthony
 

Monro, Donald M.; Rakshit, Soumyadip; Zhang, Dexin
 

Cappelli, R.; Lumini, A.; Maio, D.; Maltoni, D.
Pág. 1489 - 1503  

Siskind, J.M.; Sherman, J.J.; Pollak, I.; Harper, M.P.; Bouman, C.A.
Pág. 1504 - 1519  

Yu-Wing Tai; Jiaya Jia; Chi-Keung Tang
Pág. 1520 - 1537  

Gustafson, S.C.; Parker, D.R.; Martin, R.K.
Pág. 1538 - 1545  

Yi Ma; Derksen, H.; Wei Hong; Wright, J.
Pág. 1546 - 1562  

Hassouna, M.S.; Farag, A.A.
Pág. 1563 - 1574  

Quelhas, P.; Monay, F.; Odobez, J.-M.; Gatica-Perez, D.; Tuytelaars, T.
Pág. 1575 - 1589  

Bhowmick, P.; Bhattacharya, B.B.
Pág. 1590 - 1602  

Destrempes, F.; Mignotte, M.; Angers, J.-F.
Pág. 1603 - 1615  

Liang Wang; Ruigang Yang; Davis, J.E.
Pág. 1616 - 1626  

Chang Yuan; Medioni, G.; Jinman Kang; Cohen, I.
Pág. 1627 - 1641  

O'Toole, A.J.; Phillips, P.J.; Fang Jiang; Ayyad, J.; Penard, N.; Abdi, H.
Pág. 1642 - 1646  

Levin, A.; Weiss, Y.
Pág. 1647 - 1654  

Schechner, Y.Y.; Averbuch, Y.
Pág. 1655 - 1660  

Hanzi Wang; Suter, D.; Schindler, K.; Chunhua Shen
Pág. 1661 - 1667  

Enderli, C.; Savy, L.; Refregier, P.
Pág. 1668 - 1672  

Penna, M.A.; Dines, K.A.
Pág. 1673 - 1678  

Pág. 1679 - 1679  

Pág. 1680 - 1680