|
|
|
|
Abbosh, A. M.; Bialkowski, M. E.
|
|
Pág. 189 - 194
|
|
|
|
|
|
Seelmann-Eggebert, M.; Merkle, T.; van Raay, F.; Quay, R.; Schlechtweg, M.
|
|
Pág. 195 - 206
|
|
|
|
|
|
Keerti, A.; Pham, A.-V. H.
|
|
Pág. 207 - 214
|
|
|
|
|
|
Bera, S. C.; Singh, R. V.; Garg, V. K.; Sharma, S. B.
|
|
Pág. 215 - 221
|
|
|
|
|
|
Bahl, I. J.
|
|
Pág. 222 - 229
|
|
|
|
|
|
Park, C.; Kim, Y.; Kim, H.; Hong, S.
|
|
Pág. 230 - 238
|
|
|
|
|
|
Semenov, A. D.; Richter, H.; Hubers, H.-W.; Gunther, B.; Smirnov, A.; Il'in, K. S.; Siegel, M.; Karamarkovic, J. P.
|
|
Pág. 239 - 247
|
|
|
|
|
|
Helaoui, M.; Boumaiza, S.; Ghannouchi, F. M.; Kouki, A. B.; Ghazel, A.
|
|
Pág. 248 - 253
|
|
|
|
|
|
Alexopoulos, N. G.; Kyriazidou, C. A.; Contopanagos, H. F.
|
|
Pág. 254 - 267
|
|
|
|
|
|
Boix, R. R.; Mesa, F.; Medina, F.
|
|
Pág. 268 - 280
|
|
|
|
|
|
Sickel, T.; Meyer, P.; van der Walt, P. W.
|
|
Pág. 281 - 286
|
|
|
|
|
|
Wu, C.-H.; Wang, C.-H.; Chen, C. H.
|
|
Pág. 287 - 295
|
|
|
|
|
|
Lugo, C.; Papapolymerou, J
|
|
Pág. 296 - 301
|
|
|
|
|
|
de Villiers, D. I. L.; van der Walt, P. W.; Meyer, P.
|
|
Pág. 302 - 308
|
|
|
|
|
|
Virone, G.; Tascone, R.; Baralis, M.; Olivieri, A.; Peverini, O. A.; Orta, R.
|
|
Pág. 309 - 317
|
|
|
|
|
|
Chtioui, M.; Marceaux, A.; Enard, A.; Cariou, F.; Dernazaretian, C.; Carpentier, D.; Achouche, M
|
|
Pág. 318 - 326
|
|
|
|
|
|
Schwartz, J. D.; Azana, J.; Plant, D. V.
|
|
Pág. 327 - 334
|
|
|
|
|
|
Lakshminarayanan, B.; Weller, T. M
|
|
Pág. 335 - 342
|
|
|
|
|
|
Wake, K.; Mukoyama, A.; Watanabe, S.; Yamanaka, Y.; Uno, T.; Taki, M
|
|
Pág. 343 - 350
|
|
|
|
|
|
Sun, G.; Trueman, C. W.
|
|
Pág. 351 - 351
|
|
|
|
|
|
Cox, C.H.; Ackerman, E.I.; Betts, G.E.; Prince, J.L.
|
|
Pág. 351 - 351
|
|