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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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15 artículos asociados

Volumen 20 Número 5 Parte 0 Año 1998

Ben-Arie, J; Nandy, D
Pág. 449 - 457  

Fdez-Valdivia, J; Garcia, J A; Martinez-Baena, J; Fdez-Vidal, X R
Pág. 458 - 469  

Caspi, D; Kiryati, N; Shamir, J
Pág. 470 - 480  

Lee, T C M
Pág. 481 - 492  

Messmer, B T; Bunke, H
Pág. 493 - 504  

Pierrot Deseilligny, M; Stamon, G; Suen, C Y
Pág. 505 - 521  

Ristad, E S; Yianilos, P N
Pág. 522 - 532  

Aykroyd, R G
Pág. 533 - 539  

Havaldar, P; Medioni, G
Pág. 540 - 545  

Chandran, S; Potty, A K
Pág. 546 - 549  

Bober, M; Petrou, M; Kittler, J
Pág. 550 - 555  

Tang, Y Y; Tu, L-T; Liu, J; Lee, S-W; Lin, W-W; Shyu, I-S
Pág. 556 - 561  

Lee, E-W; Chae, S-I
Pág. 562 - 566  

Djouadi, A
Pág. 567 - 571  

Bruske, J; Sommer, G
Pág. 572 - 572