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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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10 artículos asociados

Volumen 52 Número 2 Parte 0 Año 2010

Yili Hong, William Q. Meeker
Pág. 148 - 159  

Todd L. Graves, Christine M. Anderson-Cook, Michael S. Hamada
Pág. 160 - 171  

Massimiliano Giorgio, Maurizio Guida, Gianpaolo Pulcini
Pág. 172 - 187  

Xiao Wang, Dihua Xu
Pág. 188 - 197  

Aparna V. Huzurbazar, Brian J. Williams
Pág. 198 - 208  

Kazuyuki Suzuki, Toshie Nakamoto, Yohtaro Matsuo
Pág. 209 - 220  

Martin L. Hazelton
Pág. 221 - 230  

Pi-Wen Tsai, Steven G. Gilmour
Pág. 231 - 242  

Sunanda Bagchi
Pág. 243 - 249  

Kenneth J. Ryan, Dursun A. Bulutoglu
Pág. 250 - 255