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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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11 artículos asociados

Volumen 52 Número 1 Parte 0 Año 2010

Grzegorz Wylupek
Pág. 107 - 123  

Yue Cui, James S. Hodges, Xiaoxiao Kong, Bradley P. Carlin
Pág. 124 - 136  

Christopher M. Gotwalt
Pág. 137  

Richard A. Becker, Chris Volinsky, Allan R. Wilks
Pág. 20 - 33  

David J. Hand
Pág. 34 - 38  

Galit Schmueli, Howard Burkom
Pág. 39 - 51  

Agus Sudjianto, Sheela Nair, Ming Yuan, Aijun Zhang, Daniel Kern, Fernando Cela-Díaz
Pág. 5 - 19  

Adrian E. Raftery, Miroslav Kárný, Pavel Ettler
Pág. 52 - 66  

Matthew J. Heaton, C. Shane Reese, William F. Christensen
Pág. 67 - 79  

Tirthankar Dasgupta, Arden Miller, C.F. Jeff Wu
Pág. 80 - 93  

Jeroen de Mast, Wessel N. van Wieringen
Pág. 94 - 106