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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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14 artículos asociados

Volumen 50 Número 3 Parte 0 Año 2001

Pág. 233 - 233  

Pág. 234 - 234  

Juneja, S; Shahabuddin, P
Pág. 235 - 245  

Nicola, V F; Shahabuddin, P; Nakayama, M K
Pág. 246 - 264  

Alexopoulos, C; Shultes, B C
Pág. 265 - 280  

Tragoudas, S
Pág. 281 - 285  

Jones, J; Hayes, J
Pág. 286 - 288  

Jones, J; Hayes, J
Pág. 289 - 292  

Kwak, S W; Choi, B J; Kim, B K
Pág. 293 - 301  

Sheu, S-H; Griffith, W S
Pág. 302 - 309  

Kuo, S-Y; Huang, C-Y; Lyu, M R
Pág. 310 - 320  

Bukowski, J V
Pág. 321 - 329  

Pág. 330 - 331  

Pág. 332 - 332