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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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32 artículos asociados

Volumen 46 Número 2 Parte 0 Año 1997

Pág. 161 - 161  

Sherwin, D
Pág. 162 - 162  

Rees, R
Pág. 163 - 163  

Pág. 164 - 164  

Wilson, S; Taylor, D
Pág. 165 - 171  

Pág. 172 - 172  

Macii, E; Poncino, M
Pág. 173 - 182  

Pág. 183 - 183  

Kim,; Park,; Lombardi,
Pág. 184 - 191  

Pág. 192 - 192  

Kari, H; Saikkonen, H; Park, N; Lombardi, F
Pág. 193 - 200  

Schneeweiss, W
Pág. 201 - 207  

Patvardhan, C; Prasad, V; Pyara, V
Pág. 208 - 211  

Armstrong, M
Pág. 212 - 221  

Varvarigou, T; Ahuja, S
Pág. 222 - 231  

Pág. 232 - 232  

Ravi, V; Murty, B; Reddy, P
Pág. 233 - 238  

Pág. 239 - 239  

Lui, K
Pág. 240 - 246  

Sun, Y; Tiwari, R
Pág. 247 - 252  

Pág. 253 - 253  

Lieber, D; Rubinstein, R; Elmakis, D
Pág. 254 - 265  

Hastings, N; Bartlett, H
Pág. 266 - 267  

Pág. 268 - 268  

Ismaeel, A; Bhatnagar, R
Pág. 269 - 274  

Yan, L; English, J
Pág. 275 - 281  

Szantai, T; Habib, A
Pág. 282 - 282  

Salloum, S; Breuer, M
Pág. 283 - 290  

Beiser, J; Rigdon, S
Pág. 291 - 295  

Willits, C; Diek, D; Moore, A
Pág. 296 - 301  

Pág. 302 - 302  

Pág. 303 - 303