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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

22 artículos asociados

Volumen 50 Número 1 Parte 0 Año 2001

Evans, R A
Pág. 1 - 1  

Wu, J-W; Tsai, T-R; Ouyang, L-Y
Pág. 107 - 111  

Raqab, M Z
Pág. 112 - 115  

Pág. 116 - 120  

Lu, M-W; Rudy, R J
Pág. 12 - 16  

Pág. 121 - 121  

Pág. 122 - 124  

Pág. 125 - 125  

Coit, D W; Jin, T
Pág. 17 - 25  

Evans, R A
Pág. 2 - 2  

Yang, S-C; Nachlas, J A
Pág. 26 - 35  

Carreras, C; Walker, I D
Pág. 3 - 11  

Watkins, A J
Pág. 36 - 37  

Snow, A P
Pág. 38 - 40  

Manzi, E; Labbé, M; Latouche, G; Maffioli, F
Pág. 41 - 46  

Lewis, E E
Pág. 47 - 51  

Levitin, G
Pág. 52 - 59  

Suñé, V; Carrasco, J A
Pág. 60 - 74  

Chaudhuri, G; Hu, K; Afshar, N
Pág. 75 - 84  

Pan, Y
Pág. 85 - 91  

Sahinoglu, M; Deely, J J; Capar, S
Pág. 92 - 97  

Hsu, S J; Yuang, M C
Pág. 98 - 106