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IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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12 artículos asociados

Volumen 22 Número 4 Parte 0 Año 2000

Bowyer, K
Pág. 321 - 321  

Cascia, M La; Sclaroff, S; Athitsos, V
Pág. 322 - 336  

Lanterman, A D; Grenander, U; Miller, M I
Pág. 337 - 347  

Avidan, S; Shashua, A
Pág. 348 - 357  

Han, J H; Park, J S
Pág. 358 - 370  

Li, X; Parizeau, M; Plamondon, R
Pág. 371 - 377  

Filippidis, A; Jain, L C; Martin, N
Pág. 378 - 384  

Zhong, Y; Zhang, H; Jain, A K
Pág. 385 - 392  

Xirouhakis, Y; Delopoulos, A
Pág. 393 - 399  

Park, J; Govindaraju, V; Srihari, S N
Pág. 400 - 406  

Zunic, J; Sladoje, N
Pág. 407 - 414  

Paragios, N; Deriche, R
Pág. 415 - 415