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Gong, J.G.; Armstrong, D.G.; Baxter, G.; Hogg, C.O.; Garnsworthy, P.C.; Web
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Pág. 1591 - 1602
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Sutarno; Cummins, J.M.; Greeff, J.; Lymbery, A.J.
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Pág. 1603 - 1610
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Ponsuksili, Siriluck; Wimmers, Klaus; Adjaye, James; Schellander, Karl
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Pág. 1611 - 1624
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Gouveia Nogueira, Marcelo F.; Barros, Breno J.P.; Teixeira, Andrey B.; Trinca
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Pág. 1625 - 1634
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van Rens, Birgitte T.T.M.; de Groot, Piet N.; van der Lende, Tette
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Pág. 1635 - 1649
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van Rens, Birgitte T.T.M.; van der Lende, Tette
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Pág. 1651 - 1667
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Rijsselaere, T.; Van Soom, A.; Maes, D.; de Kruif, A.
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Pág. 1669 - 1681
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Watson, P.F.; Behan, J.R.
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Pág. 1683 - 1693
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Moussa, M.; Martinet, V.; Trimeche, A.; Tainturier, D.; Anton, M.
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Pág. 1695 - 1706
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Nambo, Y.; Nagaoka, K.; Tanaka, Y.; Nagamine, N.; Shinbo, H.; Nagata, S.;
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Pág. 1707 - 1717
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Tasende, C.; Meikle, A.; Rodríguez-Piñón, M.; Forsberg, M.
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Pág. 1719 - 1731
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Burke, J.M.; Rorie, R.W.
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Pág. 1733 - 1742
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Dumont, Pascal
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Pág. 1743 - 1754
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