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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

ISSN: 0018-9480   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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20 artículos asociados

Volumen 48 Número 4(2) Parte 0 Año 2000

Pollard, R D
Pág. 625  

Liu, W Y; Steenson, D P
Pág. 757  

Eisele, H; Rydberg, A; Haddad, G I
Pág. 626 - 631  

Buckle, P D; Dawson, P; Lynch, M A; Kuo, C-Y; Missous, M; Truscott, W S
Pág. 632 - 638  

Kàlna, K; Cheung, C Y L; Pierce, I; Shore, K A
Pág. 639 - 644  

Harrison, P; Kelsall, R W; Donovan, K; Kinsler, P
Pág. 645 - 652  

Shikata, J; Kawase, K; Karino, K; Taniuchi, T; Ito, H
Pág. 653 - 661  

Yassin, G; Withington, S; Buffey, M; Jacobs, K; Wulff, S
Pág. 662 - 669  

Hovenier, J N; Diez, M C; Klaassen, T O; Wenckebach, W T; Muravjov, A V; Pa
Pág. 670 - 676  

Stake, J; Jones, S H; Dillner, L; Hollung, S; Kollberg, E L
Pág. 677 - 682  

Kawamura, J; Blundell, R; Tong, C-Y E; Papa, D C; Hunter, T R; Paine, S N;
Pág. 683 - 689  

Merkel, H F; Khosropanah, P; Floet, D W; Yagoubov, P A; Kollberg, E L
Pág. 690 - 699  

Grajal, J; Krozer, V; Gonzàlez, E; Maldonado, F; Gismero, J
Pág. 700 - 711  

MacDonald, M E; Alexanian, A; York, R A; Popovic, Z; Grossman, E N
Pág. 712 - 718  

Judaschke, R
Pág. 719 - 724  

Scherbatko, I V; Nerukh, A G; Iezekiel, S
Pág. 725 - 732  

Gaidis, M C; Pickett, H M; Smith, C D; Martin, S C; Smith, R P; Siegel, P H
Pág. 733 - 739  

Weide, D W van der; Murakowski, J; Keilmann, F
Pág. 740 - 743  

Winnewisser, C; Lewen, F T; Schall, M; Walther, M; Helm, H
Pág. 744 - 749  

Shur, M S; Lü, J-Q
Pág. 750 - 756