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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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11 artículos asociados

Volumen 46 Número 2 Parte 0 Año 2004

Lin, N. Bailey, B. A. He, X. Buttlar, W. G.
Pág. 127 - 134  

McLeod, R. G. Brewster, J. F.
Pág. 135 - 146  

Fang, K.-T. Mukerjee, R.
Pág. 147 - 152  

Reese, C. S. Wilson, A. G. Hamada, M. Martz, H. F. Ryan, K. J.
Pág. 153 - 164  

Mease, D. Nair, V. N. Sudjianto, A.
Pág. 165 - 175  

Quesada, G. M. Del Castillo, E.
Pág. 176 - 187  

Apley, D. W. Kim, J.
Pág. 188 - 199  

Reynolds, M. R. Stoumbos, Z. G.
Pág. 200 - 214  

Chan, V. Lahiri, S. N. Meeker, W. Q.
Pág. 215 - 224  

Whitcher, B.
Pág. 225 - 238  

Bhaumik, D. K. Gibbons, R. D.
Pág. 239 - 248