REVISTA

Revista IDIEM

ISSN: 1111-1178 Frecuencia: 4 Formato: Electrónica

Tablas de contenido

6 artículos asociados

Volumen 5 Número 2 Parte 0 Año 1966

Técnica de réplicas para fractografía en microscopía electrónica	Acceso
Irena Dumler, Gabriel Rodríguez
Pág. Pág. 101 - 108

Notas técnicas. Plataforma sub-base y base en caminos y calles. Normalización internacional de la calidad de una radiografía industrial	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
Pág. Pág. 109 - 133

Bibliografía	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
Pág. Pág. 135 - 146

Noticias	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
Pág. Pág. 147 - 150

Propiedades mecánicas y asociadas del pino insigne	Acceso
Hiram Albala
Pág. Pág. 83 - 92

Método RILEM de muestreo, confección, conservación y ensayos mecánicos del hormigón	Acceso
IDIEM Instituto de Investigaciones y Ensayes de Materiales
Pág. Pág. 93 - 100