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PROCEEDINGS OF THE IEEE

ISSN: 0018-9219   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

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10 artículos asociados

Volumen 96 Número 3 Parte 0 Año 2008

Insana, M. F.; Wickline, S.A.
Pág. 378 - 381  

Niedre, M.; Ntziachristos, V.
Pág. 382 - 396  

Hughes, M.; Caruthers, S.; Trung Tran; Marsh, J.; Wallace, K.; Cyrus, T.; Partlow, K.; Scott, M.; Lijowski, M.; Neubauer, A.; Winter, P.; Hu, G.; Zhang Hyuing; McCarthy, J.; Maurizi, B.; Allen, J.; Caradine, C.; Neumann, R.; Arbeit, J.; Lanza, G.; Wi
Pág. 397 - 415  

Cherry, S.R.; Louie, A.Y.; Jacobs, R.E.
Pág. 416 - 438  

Levin, C.S.
Pág. 439 - 467  

Fahrig, R.; Ganguly, A.; Lillaney, P.; Bracken, J.; Rowlands, J.A.; Zhifei Wen; Huanzhou Yu; Rieke, V.; Santos, J.M.; Pauly, K.B.; Sze, D.Y.; Frisoli, J.K.; Daniel, B.L.; Pelc, N.J.
Pág. 468 - 480  

Meng-Lin Li; Jung-Taek Oh; Xueyi Xie; Geng Ku; Wei Wang; Chun Li; Lungu, G.; Stoica, G.; Wang, L.V.
Pág. 481 - 489  

Sinkus, R.; Tanter, M.; Bercoff, J.; Siegmann, K.; Pernot, M.; Athanasiou, A.; Fink, M.
Pág. 490 - 499  

Clarkson, E.; Kupinski, M.A.; Barrett, H.H.; Furenlid, L.
Pág. 500 - 511  

Ahmed, W.M.; Leavesley, S.J.; Rajwa, B.; Ayyaz, M.N.; Ghafoor, A.; Robinson, J.P.
Pág. 512 - 531