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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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9 artículos asociados

Volumen 50 Número 1 Parte 0 Año 2008

Vine, A.E.; Lewis, S.M.; Dean, A.M.; Brunson, D.
Pág. 15 - 25  

Nguyen, Nam-Ky; Cheng, Ching-Shui
Pág. 26 - 31  

Kimel, Maria Tripolski; Benjamini, Yoav; Steinberg, David M.
Pág. 32 - 39  

Choi, Hyunyoung; Ombao, Hernando; Ray, Bonnie
Pág. 40 - 52  

Jeske, D.R.; Lockhart, R.A.; Stephens, M.A.; Zhang, Q.
Pág. 53 - 63  

Hong, Yili; Meeker, William Q.; Escobar, Luis A.
Pág. 64 - 68  

Krishnamoorthy, K.; Mathew, Thomas; Mukherjee, Shubhabrata
Pág. 69 - 78  

Carreras, Francesc; Freixas, Josep; Puente, María Albina
Pág. 79 - 85  

Hengartner, Nicolas W.; Michalak, Sarah E.; Takala, Bruce E.; Wender, Stephen A.
Pág. 8 - 14