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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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10 artículos asociados

Volumen 50 Número 2 Parte 0 Año 2008

Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff
Pág. 103 - 127  

Zuo, Jianying; Meeker, William Q.; Wu, Huaiqing
Pág. 128 - 143  

Kundu, Debasis
Pág. 144 - 154  

Hawkins, Douglas M.; Maboudou-Tchao, Edgard M.
Pág. 155 - 166  

Dasgupta, Tirthankar; Mandal, Abhyuday
Pág. 167 - 181  

Lawrence, Earl; Bingham, Derek; Liu, Chuanhai; Nair, Vijayan N.
Pág. 182 - 191  

Qian, Peter Z.G.; Wu, C. F. Jeff
Pág. 192 - 204  

Morris, Max D.; Moore, Leslie M.; McKay, Michael D.
Pág. 205 - 215  

Zhang, Jian; Craigmile, Peter F.; Cressie, Noel
Pág. 216 - 227  

Guirguis, Georges H.
Pág. 228 - 229