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The application of control chart for defects and defect clustering in IC manufacturing based on fuzzy theory

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Kun-Lin Hsieh, Lee-Ing Tong and Min-Chia Pág. 765 - 776

Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 32 Num: 3 Par: 0 Año: 2007

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