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Combinatorial measurements of Hall effect and resistivity in oxide films

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J. A. Clayhold, B. M. Kerns, M. D. Schroer, D. W. Rench, G. Logvenov, A. T. Bollinger, and I. Bozovic

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 3 Par: 0 Año: 2008

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