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Infrared grey-field polariscope: A tool for rapid stress analysis in microelectronic materials and devices

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Gavin Horn, Jon Lesniak, Thomas Mackin, and Brad Boyce Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

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