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Non-destructive characterization of recrystallization kinetics using three-dimensional X-ray diffraction microscopy

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E.M. Lauridsen, S. Schmidt, S.F. Nielsen, L. Margulies, H.F. Poulsen and D. Juul Jensen Pág. 51 - 56

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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