2 Artículos

Virtual instrument automation of ion channeling setup for 1.7 MV tandetron accelerator

Solicitud

usuarios registrados

K. Suresh, B. Sundaravel, B. K. Panigrahi, K. G. M. Nair, and B. Viswanathan Pág. 4891 - 4895

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 11 Par: 0 Año: 2004

Scaling analysis of Fe-implanted Ge surfaces using atomic force microscopy

Solicitud

usuarios registrados

Venugopal, R. Sundaravel, B. Wilson, I. H. Xu, J. B. Pág. 241 - 248

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »