AVANZADA

1 Artículos

High precision metrology based microwave effective linewidth measurement technique

Solicitud

usuarios registrados

Nan Mo, Jerome J. Green, Bailey A. Beitscher, and Carl E. Patton

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 78 Num: 11 Par: 0 Año: 2007

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »