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Near-Field Microwave In-Process Thickness Monitoring of Coatings Undergoing Curing

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Nanni, E.; Abou-Khousa, M.; Kharkovsky, S.; Zoughi, R.; Austin, R. Pág. 865 - 870

Revista: MATERIALS EVALUATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 66 Num: 8 Par: 0 Año: 2008

High Resolution Millimeter Wave Imaging of Space Shuttle External Fuel Tank Spray-On Foam Insulation

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Kharkovsky, S.; Zoughi, R.; Hepburn, F.L. Pág. 1220 - 1229

Revista: MATERIALS EVALUATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 65 Num: 12 Par: 0 Año: 2007

Whispering-Gallery Modes in Shielded Hemispherical Dielectric Resonators

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Eremenko, Z. E. Filipov, Y. F. Kharkovsky, S. N. Kutuzov, V. V. Kogut, A. F.--ISSUE_BOUNDARYContent-Type: text/plainContent-Disposition: attachment; filename= 4363202.txt Search Name: 4363.2051Journal Pág. 2647 - 2649

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 11 Par: 0 Año: 2002

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