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Polarized high-brilliance and high-resolution soft x-ray source at ELETTRA: The performance of beamline BACH

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Zangrando, M. Zacchigna, M. Finazzi, M. Cocco, D. Rochow, R. Parmigiani, F. Pág. 31 - 36

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 1 Par: Año: 2004

Technique for measuring the groove density of diffraction gratings using the long trace profiler

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Cocco, D. Sostero, G. Zangrando, M. Pág. 3544 - 3548

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 7 Par: 0 Año: 2003

BACH, the beamline for advanced dichroic and scattering experiments at ELETTRA

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Zangrando, M.; Finazzi, M.; Paolucci, G.; Comelli, G.; Diviacco, B.; Walker Pág. 1313 - 1319

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 2 Par: 0 Año: 2001

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