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E. Ajay Kumar, K. Surekha, K. Bhanu Rekha, S. Harish Kumar Sharma     Pág. Page:102 - 112Abstrac
Revista: Current Journal of Applied Science and Technology    Formato: Electrónico

 
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Harish K. Pillai; Jan C. Willems     Pág. 1406 - 1430
Revista: SIAM JOURNAL ON CONTROL AND OPTIMIZATION    Formato: Impreso

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