AVANZADA

1 Artículos

Combined molecular beam epitaxy and diffractometer system for in situ x-ray studies of crystal growth

Solicitud

usuarios registrados

Jenichen, B. Braun, W. Kaganer, V. M. Shtukenberg, A. G. Daweritz, L. Schulz, C.-G. Ploog, K. H. Erko, A. Pág. 1267 - 1273

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 1 Año: 2003

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »