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Characterization of fiber texture by ?-scan x-ray diffraction

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W. D. Fei, C. Q. Liu, M. H. Ding, W. L. Li, and L. D. Wang

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 9 Par: 0 Año: 2009

Low-temperature crystallization and orientation evolution of Nb-doped Pb(Zr,Ti)O3 thin films using a Pb0.8Ca0.1La0.1Ti0.975O3 seed layer

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Q.G. Chi, W.L. Li, B. Feng, C.Q. Liu, W.D. Fei Pág. 218 - 220

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 60 Num: 4 Par: 0 Año: 2009

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