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Femtosecond time-resolved dielectric function measurements by dual-angle reflectometry

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Roeser, C. A. D. Kim, A. M.-T. Callan, J. P. Huang, L. Glezer, E. N. Siegal, Y. Mazur, E. Pág. 3413 - 3422

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 7 Par: 0 Año: 2003

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