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T. Ma, F. N. Beg, A. G. MacPhee, H.-K. Chung, M. H. Key, A. J. Mackinnon, P. K. Patel, S. Hatchett, K. U. Akli, R. B. Stephens, C. D. Chen, R. R. Freeman, A. Link, D. T. Offermann, V. Ovchinnikov et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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