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Analysis of Work-Function Variation Effects in a Tunnel Field-Effect Transistor Depending on the Device Structure
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Garam Kim, Jang Hyun Kim, Jaemin Kim and Sangwan Kim
This work can be applied to analyze and reduce the WFV effect of TFETs.
Revista:
Applied Sciences
Formato:
Electrónico
Tabla de contenido:
Vol: 10 Num: 0 Par: 15 Año: 2020
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