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P. L. Stephan Thamban, Jimmy Hosch, and M. J. Goeckner    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Goeckner, M. J. Marquis, J. M. Markham, B. J. Jindal, A. K. Joseph, E. A. Zhou, B.-S.     Pág. 884 - 890
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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