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Controllable optical emission spectroscopy diagnostic system for analysis of process chemistries
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P. L. Stephan Thamban, Jimmy Hosch, and M. J. Goeckner
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Impreso
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Vol: 81 Num: 1 Par: 0 Año: 2010
Modified gaseous electronics conference reference cell for the study of plasma-surface-gas interactions
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Goeckner, M. J. Marquis, J. M. Markham, B. J. Jindal, A. K. Joseph, E. A. Zhou, B.-S.
Pág. 884 - 890
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 75 Num: 4 Par: 0 Año: 2004
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