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Rutherford backscattering spectrometry analysis of TiO~2 thin films

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Fernandez-Lima, F. Vigil, E. Zumeta, I. Freire, F. L. Prioli, R. Pedrero, E. Pág. 155 - 160

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2003

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