AVANZADA

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Robust Design of Measurement Systems

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Tirthankar Dasgupta, Arden Miller, C.F. Jeff Wu Pág. 80 - 93

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Estimation of Process Parameters to Determine the Optimum Diagnosis Interval for Control of Defective Items

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Dasgupta, Tirthankar; Mandal, Abhyuday Pág. 167 - 181

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

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