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Deformation Models for Image Recognition

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Keysers, D.; Deselaers, T.; Gollan, C.; Ney, H. Pág. 1422 - 1435

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 29 Num: 8 Par: 0 Año: 2007

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