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Holmquist, L. E. Gellersen, H.-W. Kortuem, G. Schmidt, A. Strohbach, M. Antifakos, S. Michahelles, F. Schiele, B. Beigl, M. Maze, R.     Pág. 56 - 65
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

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