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Following peak profiles during elastic and plastic deformation: A synchrotron-based technique

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H. Van Swygenhoven, B. Schmitt, P. M. Derlet, S. Van Petegem, A. Cervellino, Z. Budrovic, S. Brandstetter, A. Bollhalder, and M. Schild

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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