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The Future of Industrial Statistics: A Panel Discussion

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Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff Pág. 103 - 127

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

Testing the Untestable: Reliability in the 21st Century

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Bennett, T. R. Booker, J. M. Keller-McNulty, S. Singpurwalla, N. D. Pág. 118 - 124

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2003

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